插回损测试中的免缠绕是什么意思？

光传输系统中，当入射光传输至光器件时，入射光总有部分光被光器件反射回来。其中后向反射光功率与入射光功率的比值就是反射损耗。后向反射光会对光源的工作带来不利的影响，因此光器件的反射损耗测试就成为必须。

常用的光回波损耗测试方法包括OCWR光连续波反射测试和OTDR光时域反射测试。这两种方法都是IEC61300-3-6建议的方法。前者适合测试小于等于-55dB的反射损耗，但是使用中需要缠绕等办法消除光纤等的反射。后者则可以免缠绕，支持更高测试范围。

如图所示，OCWR法不能区别光纤中的瑞利散射和光器件本身的菲涅尔反射，在多数情况下使用不超过1.5米的测试光纤，一般极限测量值是-70dB。而OTDR法则相比优势明显，不仅可以区别瑞利散射和菲涅尔反射，而且可以让用户自己选择测量某个接头的回波损耗，可以消除测试引入纤的影响，测量范围最大可以到80dB。

不同于OTDR，使用OCWR方法测试，须对光纤尾端进行去反射处理，包括将光纤尾端加工成APC端面，或者采用折射率匹配液，还有就是可以对光纤进行缠绕（缠绕位置应该在标准跳线SJ2靠近标准连接器10cm处），直到回波损耗稳定不变为止（不适合多模光纤，多模光纤需要增加消除高阶模的装置）。